如何用光谱共焦测量和评定表面粗糙度-立仪介绍
测量和评定表面粗糙度时，需要确定取样长度、评定长度、基准线和评定参数。这有一套标准规定，取样的数据用小二乘法找到中线，然后用统计的方法可以算出高度特征参数Ra,Rz,Ry等，间距特征参数S和Sm,形状特征参数也就是轮廓支撑长度率tp。由于涉及制造成本，在实际应用中需要合理的选择参数类型以及参数值，表面粗糙度的参数设定需要慎重对待，否则会带来不必要的成本增加。那么具体如何用光谱共焦技术测量和评定表面粗糙度?立仪光谱共焦 厂家介绍：精密机械在追求精度、刚性、密封或者寿命的时候，如果标注尺寸公差和形位公差，不能够有效控制产品质量，这时会需要进一步控制零件的微观几何形状误差，也就是表面粗糙度，即要控制尺寸公差和形位公差又要控制表面粗糙度。
表面越粗糙，配合表面间的有效接触面积越小，压强越大，磨损就越快。粗糙零件的表面存在较大的波谷，它们像尖角缺口和裂纹一样，对应力集中很敏感，从而影响零件的疲劳强度。
目前制造业中测量零件尺寸和形位公差的仪器是传统的量具，比如卡尺，千分尺，千分表，三坐标测量仪等，这些仪器采样点是一个宏观的接触点，在微观上，是一个众多高点接触的平均点，是无法反映微观的几何形状误差。而测量粗糙度的仪器又不能测量宏观的形位公差。
用光谱共焦技术、机器视觉技术、激光CCD等先进传感器，配合自动化技术以及系统软件，领略数控已经开发出高清晰、非接触式的精密测量设备，该设备既可以测量出宏观的直线度、轮廓度等形位公差，也可以给出表面粗糙度值，也能给出宏观和微观两种特征的综合结论。这类测量设备是当下研发精密机械的后发优势，更加利于管控零件的加工质量，更加有利于精密机械的技术迭代。
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