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发现免洗焊锡丝出现锡须会导致电路短路，并导致电容器失效，这一问题引发人们对Sn晶须进行了长期深入而广泛的研究。但是时至今日，Sn晶须现象还存在大量未解之谜，可以认为这一现象本身至今依然很神秘。
晶须是指在金属表面生长出的细丝状单晶，通常生长在厚度较小的金属沉积层表面，而以含锡镀层表面生长的Sn晶须最典型。由于材料内应力梯度的存在，免洗焊锡丝锡须的生长是一个自发的过程，但是，其生长速度与外部环境条件密切相关。
由免洗焊锡丝锡须导致的失效形式主要有以下几种：
在低电压下，由于电流比较小，锡须可以在领近不同电势表面产生稳定持久的短路;
在高电压下，当电流足够高而超过Sn晶须的熔断电流时，可以熔断晶须从而导致瞬时短路;
在航天器真空环境中，由锡须短路导致金属蒸发放电，可形成一个稳定的等离子电弧，并导致电子设备迅速毁坏;在震动环境中，晶须脱落会引发电路短路，同时还可造成精密机械的故障或破坏。历史上由于晶须导致的失效故障很多，其中有一些甚至是灾难性的故障。
Sn晶须问题成为无铅化进程的一个重要的可靠性问题。这也是无铅焊锡丝及所有无铅焊锡产品进程的重要的可靠性问题。
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发表于 2017-6-15 14:55:55